步进電(diàn)机驱动器老化测试的三种方式

電(diàn)子元器件在出厂前都必须要进行老化测试。如果没有(yǒu)经过老化测试，很(hěn)多(duō)半导體(tǐ)成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用(yòng)中会产生许多(duō)问题。通过老化测试就是让半导體(tǐ)进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用(yòng)早期发生故障。汉德保電(diàn)机对于步进電(diàn)机驱动器老化测试主要有(yǒu)这几种方式：

1、驱动器性能(néng)测试：主要集中在驱动器效率、谐波分(fēn)析、三相不平衡度分(fēn)析、干扰分(fēn)析等测试项目。

2、驱动器响应测试：主要是通过電(diàn)机测试台架，给電(diàn)机施加不同的负载，观察负载变化时電(diàn)机驱动器能(néng)否根据算法快速地调节電(diàn)机的工作状态，评估驱动器的响应性能(néng)。

驱动器老化测试：主要测试驱动器抗老化能(néng)力。